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異物・原材料分析

弊社では、工業製品、原材料、水質等に含まれる異物の同定試験を行っています。FT−IR、蛍光X線分析計、X線回折装置、ICP−MS、走査型電子顕微鏡(SEM−EDS)、透過型電子顕微鏡(TEM−EDS)を用い、経験豊富な技術者による分析が可能です。

概要、応用例

■フーリエ変換赤外分光分析装置(FT−IR)
概要: 試料に赤外線を当てると、分子固有の振動数に対応したエネルギー吸収が起こります。
この吸収スペクトルを解析することにより分子の情報が得られます。
応用例: フィルム中の異物や金属表面の付着物の成分同定。
電気部品材質(樹脂)の同定。
■蛍光X線分析装置(XRF)
概要: 試料にX線を照射すると試料中の成分元素から元素に特有な波長の蛍光X線が発生します。
この波長から元素を同定し、X線の強度から元素の濃度を求めることができます。
応用例: 金属材料、粉体試料の組成分析
■X線回折装置(XRD)
概要: 試料にX線を照射することにより生じた回折現象から物質の結晶構造を分析できます。
応用例: 粉体試料の定性分析
アスベストの定性、定量分析
ポリマーの結晶性
■走査型電子顕微鏡(SEM−EDS)
概要: 試料に電子線を照射し、二次電子により表面形状を観察します。
また、同時に発生する特性X線を検出して元素分析を行います。
応用例: 物質に混入した異物などの表面及び断面の形状観察、観察部分の元素分析により異物の同定。
■透過型電子顕微鏡(TEM−EDS)
概要: 画像が高倍率、電子線回折(ED)による結晶構造、エネルギー分散X線分析(EDS)による元素組成の把握が可能です。
応用例: アスベストの無害化処理の確認
水道水中のアスベスト分析     
カーボンナノファイバーの同定
■プラズマ質量分析装置(ICP−MS)
概要: イオン源としてのICP部とそのイオンを分離定量するMS(四重極質量分析計)からなる高感度、高性能の元素分析装置です。
応用例: 水道水、地下水中の元素の定性、定量分析      
大気粉塵、デーゼル粒子中の元素の定性、定量分析      
土壌、産業廃棄物の定性、定量分析
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